齿射线荧光分析的基本原理
2021-08-20
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。齿射线荧光就是被分析样品在齿射线照射下发出的齿射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述齿射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是齿射线荧光分析仪。
从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自*的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够 能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出 X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线 的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量。
量子力学知识告诉我们，X射线具有波粒二象性，既可以看作粒子，也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是著名的 普朗克公式：E=hc/ λ。显然，无论是测定能量，还是波长，都可以实现对相应元素的分析，其效果是*一样的。
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